產(chǎn)品簡介
HSEM-06PS室溫變場(chǎng)探針臺(tái)霍爾測(cè)試系統(tǒng)可以放置最大4英寸的晶圓樣品,采用多孔分區(qū)控制氣體吸附固定,能提供可變的磁場(chǎng)環(huán)境,磁場(chǎng)大小±0.6T ,可安裝6個(gè)探針臂。外部連接其他電測(cè)儀表可在室溫下對(duì)芯片、晶圓和器件進(jìn)行非破壞電學(xué)測(cè)試,比如不同磁場(chǎng)下電流、電壓、電阻等電學(xué)信號(hào)等。

HSEM-06PS室溫變場(chǎng)探針臺(tái)霍爾測(cè)試系統(tǒng)可以放置最大4英寸的晶圓樣品,采用多孔分區(qū)控制氣體吸附固定,能提供可變的磁場(chǎng)環(huán)境,磁場(chǎng)大小±0.6T ,可安裝6個(gè)探針臂。外部連接其他電測(cè)儀表可在室溫下對(duì)芯片、晶圓和器件進(jìn)行非破壞電學(xué)測(cè)試,比如不同磁場(chǎng)下電流、電壓、電阻等電學(xué)信號(hào)等。
系統(tǒng)特點(diǎn):
? 樣品座可以放置最大4英寸的晶圓樣品,采用多孔分區(qū)控制氣體吸附固定。(可定制其他尺寸)
? 能提供可變的磁場(chǎng)環(huán)境,磁場(chǎng)大小±0.6T
? 最多可安裝6個(gè)探針臂
? 探針臂采用磁鐵吸附,可任意移動(dòng),并且可以三維微調(diào)操作方便,扎針精準(zhǔn),四個(gè)探針臂的探針可以扎到樣品的任意位置。
? 探針臂采用三同軸線纜和三同軸接頭,漏電流小,在100fA以內(nèi)
? CCD最大放大倍數(shù)為180倍,最大工作距離為100mm
測(cè)試材料:
? 熱電材料:碲化鉍、碲化鉛、硅鍺合金等
? 光伏材料/太陽能電池:(A硅(單晶硅、非晶硅)、CIGS(銅銦鎵硒)、碲化鎘、鈣鈦礦等)
? 有機(jī)材料:(OFET、OLED)
? 透明導(dǎo)電金屬氧化物TCO:(ITO、AZO、ZnO、IGZO(銦鎵鋅氧化物)等)
? 半導(dǎo)體材料:SiGe、InAs、SiC、InGaAs、GaN、SiC、InP、ZnO、Ga2O3等
? 二維材料:石墨烯、BN、MoS2等
參數(shù)和指標(biāo):
| 標(biāo)準(zhǔn)電阻范圍 | 10mΩ-100GΩ |
| 遷移率 | 10-2-106cm2/VS |
| 載流子濃度 | 8x102-8x1023/cm3 |
| 霍爾電壓 | 分辨率為 1μV |
| 電壓激勵(lì)范圍 | 100nV ~ 10V |
| 電流激勵(lì)范圍 | 10pA ~ 100mA |
| 測(cè)試方法 | 范德堡或霍爾巴 |
| 樣品尺寸 | 50mm或100mm |
| 樣品接觸方式 | 三維精細(xì)位移探針臂扎針,最小滿足 3μm電極扎針 |
| 樣品溫度 | 室溫 |
| 樣品環(huán)境 | 大氣,可選氮?dú)夥諊?br /> |
| 磁場(chǎng) | ±0.6T |
| 磁場(chǎng)調(diào)節(jié)方式 | 自動(dòng) |
| 磁鐵間隙 | 30mm |
| 磁場(chǎng)均勻區(qū) | 10mm*10mm*10mm優(yōu)于5% |
集成電路
芯片
晶圓片