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液氮高低溫探針臺 PSM-LN2系列

液氮高低溫探針臺 PSM-LN2系列

產品簡介

PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導體芯片的電學參數(shù)測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環(huán)境,通過外接不同的電學測量儀器,可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測,用于低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

產品概述

Avantgarde 液氮高低溫探針臺在科學研究和技術開發(fā)中發(fā)揮著至關重要的作用。它能夠在低溫環(huán)境下對樣品進行各種非破壞性的物理性能和電學性能測試,幫助研究人員深入了解材料或者器件的各種物理性能和電學性能,從而為新材料的研發(fā)和應用提供重要的數(shù)據(jù)支持。
PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導體芯片的電學參數(shù)測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環(huán)境,通過外接不同的電學測量儀器,可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測,用于低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電測試。


特點
? 液氮高低溫真空探針臺,15分鐘內腔體真空度可達到 10E-4torr,液氮消耗量小,降到最低溫度只需0.2L液氮,使用方便快捷同時兼顧經濟性。
? 探針臂的位移調節(jié)在真空腔外操作,可以在不破壞真空 的情況下,切換樣品上的不同器件進行測試。
? 獨特的探針臂 X-Y-Z-R四維調節(jié),能滿足最大4英寸樣品的測試。
? 真空腔材質為鋁制材料,能夠有效減小外界的電磁干擾,提高測試的精準度和穩(wěn)定性
? 探針臂采用三同軸接頭,漏電性能好,實測漏電流小于100fA @1V@80K--800K
? 測試溫度范圍寬,最大支持80K-800K連續(xù)變溫。
? 獨特設計的柔性探針,將探針安裝到銅制彈片上,避免扎針過程中力量過大導致樣品或電極損壞
? 上蓋采用翻蓋結構,換樣更便捷。



技術參數(shù)

參數(shù)和指標:

探針臺主機分類
型號PSM-LN2-2
PSM-LN2-2H
PSM-LN2-4
PSM-LN2-4H
溫度范圍 
80K--500K
80K--800K
80K--500K 
80K--800K
控溫穩(wěn)定性
+/-50mK
+/-100mk
+/-50mK
+/-100mk
樣品座
類型及材料無氧銅接地鍍金樣品座
無氧銅接地樣品座 
無氧銅接地樣品座
無氧銅接地樣品座 
尺寸2寸2寸4寸4寸
可選規(guī)格絕緣樣品座 (最高溫度只能到400K)
同軸樣品座 (最高溫度只能到400K)
三同軸樣品座(最高溫度只能到400K)
探針臂
類型直流探針臂
數(shù)量4
接頭及電纜
三同軸接頭+極細同軸低溫電纜
漏電流100fA@1V 真空環(huán)境中
信號頻率
 DC--50MHz
匹配阻抗 
50歐姆
位移范圍
Z +/-6.5m R+/-10°
X+/- 50mm,Y+/- 12.5m 
X+/- 35mm,Y+/- 12.5m
Z +/-6.5m R+/-10°
光學系統(tǒng)
顯微鏡放大倍數(shù)
 10--180倍
分辨率
3微米
視場 
最大22mm
工作距離
 90--100mm
真空腔
材料鋁合金
腔體容積
 4L
 5.5L
整體尺寸
800*800*600
900*900*600
腔體內徑
 124mm
155mm
視窗尺寸
 50mm
 100mm
真空腔體窗口
紅外吸收窗口
防輻射屏窗口 
N/A標準石英窗口
                 N/A
標準石英窗口
真空度
 5*10E-4 torr
預留接口
2個探針臂接口&2個電學接口
防輻射屏材料
                  N/A
不銹鋼
                  N/A
不銹鋼
液氮腔體
液氮容量
 0.5L
冷卻時間
60分鐘到80K
 80分鐘到80K
液氮消耗量
0.2L從室溫到80K
0.3L從室溫到80K
液氮保持時間
 4小時@80K
 3小時@80K
專用振動隔離桌
尺寸
 800*800*800
 900*900*800
桌推
 固定腳&滾輪

應用領域

  • 集成電路
  • 芯片
  • 晶圓片

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