PRODUCT CENTER
產(chǎn)品中心
共有84個(gè)產(chǎn)品
-
Kelvinion 溫控儀
MultiFields推出的 "Kelvinion"是?款功能強(qiáng)大的低溫溫控儀。它包括?路獨(dú)立的高精度溫度測(cè)量通道（支持RTD和Diode類型溫度計(jì)）和兩路高達(dá)100W+50W的大功率PID輸出通道，以及兩個(gè)繼電器輸出和兩個(gè)模擬輸出通道。PID閉環(huán)控制、Zone模式、變溫速率設(shè)定和主動(dòng)過(guò)熱檢測(cè)等實(shí)用功能的加持讓Kelvinion低溫溫控儀成為低溫研究的利器。
查看更多
-
Scientific Instruments Zirnox氮氧化鋯低溫溫度傳感器
Scientific Instruments 低溫傳感器，Zirnox是一種薄膜電阻式溫度傳感器，可以在很寬的溫度范圍(0.02K至360K)內(nèi)工作，當(dāng)暴露在磁場(chǎng)和電離輻射環(huán)境中時(shí)，其校準(zhǔn)位移可以忽略不計(jì)。由氮氧化鋯組成，傳感器的材料和物理特性允許快速熱響應(yīng)，特殊的傳熱和一系列安裝選項(xiàng)，以滿足您的應(yīng)用。
查看更多
-
室溫永磁鐵探針臺(tái)PSPM系列
PSPM系列室溫永磁體探針臺(tái)是一款專門針對(duì)室溫垂直磁場(chǎng)電測(cè)環(huán)境開(kāi)發(fā)的探針臺(tái)，提供0.5T垂直磁場(chǎng)，能夠?qū)?寸、4寸、6寸、8寸晶圓片進(jìn)行重復(fù)性的、標(biāo)準(zhǔn)的電學(xué)實(shí)驗(yàn)，外接不同的測(cè)試設(shè)備可以完成對(duì)器件的電學(xué)特性測(cè)量、參數(shù)測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和霍爾測(cè)量。
查看更多
-
液氮高低溫探針臺(tái) PSM-LN2系列
PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺(tái)能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80K-800K高低溫真空測(cè)試環(huán)境，通過(guò)外接不同的電學(xué)測(cè)量?jī)x器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測(cè)，用于低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。
查看更多
-
Scientific Instruments RO-600氧化釕溫度傳感器
Scientific Instruments 低溫傳感器，RO-600氧化釕超低溫溫度傳感器是一種厚膜電阻傳感器，工作溫度范圍0.02K-20K。它溫度響應(yīng)速度快，尺寸小易于安裝，是He3制冷機(jī)和稀釋制冷機(jī)最好的溫度傳感器選擇。
查看更多
-
Kelvinion Monitor 溫度監(jiān)視器
MultiFields推出了 "Kelvinion Monitor"低溫監(jiān)視器,它標(biāo)準(zhǔn)配備12路獨(dú)?的高精度溫度測(cè)量通道（支持RTD和Diode類型溫度計(jì)），每個(gè)測(cè)溫通道的采樣速率均為10SPS，通道間具有同步采樣功能，同步時(shí)間優(yōu)于100us。主從機(jī)的設(shè)計(jì)使其可以方便的拓展至最多32路測(cè)溫通道，并支持安裝至標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜。
查看更多
-
緊湊型手動(dòng)探針臺(tái)SPSM系列
SPSM系列探針臺(tái)主要參數(shù)是樣品座尺寸：2英寸、4英寸；最大探針臂數(shù)量6個(gè)；樣品環(huán)境在大氣中，溫度范圍：室溫。SPSM系列緊湊型室溫手動(dòng)探針臺(tái)是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠、入門級(jí)的探針臺(tái)，能夠?qū)?寸、4寸晶圓片進(jìn)行大量非破壞性的、標(biāo)準(zhǔn)的電學(xué)實(shí)驗(yàn)，外接不同的測(cè)試設(shè)備，可以完成對(duì)器件的電學(xué)特性測(cè)量、參數(shù)測(cè)量、DC測(cè)量。緊湊的桌面設(shè)計(jì)是學(xué)術(shù)和實(shí)驗(yàn)研究的最佳選擇。
查看更多
-
閉循環(huán)低溫探針臺(tái)PSM-4K系列
PSM-4K系列低溫探針臺(tái)是一款閉循環(huán)低溫探針臺(tái)，緊湊型及低振動(dòng)的設(shè)計(jì)，能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)＜5K-350K高低溫真空測(cè)試環(huán)境，通過(guò)外接不同的電學(xué)測(cè)量?jī)x器，可完成材料/器件的IV、CV、光學(xué)以及微波等參數(shù)檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。
查看更多
